Tại sao lại có sự khác biệt nhỏ trong hệ số suy hao của sợi quang khi kiểm tra cùng một mẫu OTDR?
Sự khác biệt về hệ số suy hao sợi quang trong quá trình kiểm tra OTDR của cùng một mẫu chủ yếu là do nhiều yếu tố khác nhau. Đầu tiên, có một phạm vi dương và âm cho giá trị bước sóng danh định của thử nghiệm OTDR EXFO, với hầu hết các mẫu có giá trị danh định là ± 20nm, chẳng hạn như 1550nm.
Độ lệch bước sóng có thể ảnh hưởng nhẹ đến kết quả. Bởi vì hệ số suy hao của sợi quang có liên quan chặt chẽ đến bước sóng, các đặc tính hấp thụ và tán xạ của sợi quang khác nhau ở các bước sóng khác nhau và độ lệch bước sóng có thể thay đổi giá trị suy hao đo được.
Bảng sau đây cho thấy những thay đổi về suy hao danh định và suy hao khi bước sóng của nguồn sáng thay đổi 20nm.
Các điều kiện môi trường thử nghiệm khác nhau cũng có thể gây ra sự khác biệt. Các yếu tố môi trường như nhiệt độ và độ ẩm có thể ảnh hưởng đến hiệu suất của sợi quang và trạng thái hoạt động của OTDR, từ đó can thiệp vào việc đo hệ số suy hao. Hơn nữa, chất lượng và tính đồng nhất của chính sợi quang không hoàn toàn nhất quán và có thể có các khiếm khuyết nhỏ cục bộ hoặc dao động thông số, điều này cũng có thể dẫn đến các hệ số suy hao khác nhau thu được khi kiểm tra cùng một loại OTDR ở các vị trí khác nhau. Ngoài ra, các yếu tố vận hành như hiệu chuẩn OTDR và cài đặt thông số kiểm tra cũng có thể có tác động nhất định đến kết quả kiểm tra hệ số suy hao cuối cùng.
Tại sao lại có sự khác biệt nhỏ trong hệ số suy hao của sợi quang khi kiểm tra cùng một mẫu OTDR?
Sự khác biệt về hệ số suy hao sợi quang trong quá trình kiểm tra OTDR của cùng một mẫu chủ yếu là do nhiều yếu tố khác nhau. Đầu tiên, có một phạm vi dương và âm cho giá trị bước sóng danh định của thử nghiệm OTDR EXFO, với hầu hết các mẫu có giá trị danh định là ± 20nm, chẳng hạn như 1550nm.
Độ lệch bước sóng có thể ảnh hưởng nhẹ đến kết quả. Bởi vì hệ số suy hao của sợi quang có liên quan chặt chẽ đến bước sóng, các đặc tính hấp thụ và tán xạ của sợi quang khác nhau ở các bước sóng khác nhau và độ lệch bước sóng có thể thay đổi giá trị suy hao đo được.
Bảng sau đây cho thấy những thay đổi về suy hao danh định và suy hao khi bước sóng của nguồn sáng thay đổi 20nm.
Các điều kiện môi trường thử nghiệm khác nhau cũng có thể gây ra sự khác biệt. Các yếu tố môi trường như nhiệt độ và độ ẩm có thể ảnh hưởng đến hiệu suất của sợi quang và trạng thái hoạt động của OTDR, từ đó can thiệp vào việc đo hệ số suy hao. Hơn nữa, chất lượng và tính đồng nhất của chính sợi quang không hoàn toàn nhất quán và có thể có các khiếm khuyết nhỏ cục bộ hoặc dao động thông số, điều này cũng có thể dẫn đến các hệ số suy hao khác nhau thu được khi kiểm tra cùng một loại OTDR ở các vị trí khác nhau. Ngoài ra, các yếu tố vận hành như hiệu chuẩn OTDR và cài đặt thông số kiểm tra cũng có thể có tác động nhất định đến kết quả kiểm tra hệ số suy hao cuối cùng.
Địa chỉ
Phòng C, tầng 9 Wing Lee Building, 72-76 Wing Lok Street, Sheung Wan, Hong Kong
Điện thoại
00-86-13534063703
